Geräte:Zur Datensammlung stehen uns derzeit zwei Flächendetektoren zur Verfügung, die beide mit einer Kühlvorrichtung von OXFORD CRYOSTREAM ausgestattet sind, so daß Tieftemperaturmessungen möglich sind. Bei den Diffraktometern handelt es sich (1) um ein STOE-IPDS, bei dem das Beugungsmuster mit Hilfe der Image-Plate-Technik registriert wird, und (2) um ein Enraf-Nonius Kappa-CCD, einem Vierkreisdiffraktometer, das einen CCD-Chip zur Registrierung verwendet. Als Strahlungsquellen verwenden wir beim IPDS eine konventionelle 3-kW-sealed-tube-Anode, während für das Kappa-CCD eine Enraf-Nonius-Drehanode zur Verfügung steht. Zur Kristallauswahl verwenden wir diverse Mikroskope der Firmen Wild und Leica, die jeweils mit einer Polarisationseinrichtung und Drehtisch ausgestattet sind (am besten schauen Sie also mit Ihren unpräparierten Kristallen vorbei, so daß wir unter polarisationsoptischer Kontrolle den schönsten heraussuchen können). |
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